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新的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)提供了可追蹤的光學(xué)粗糙度測(cè)量
迄今為止,新的粗糙度標(biāo)準(zhǔn)為光學(xué)粗糙度測(cè)量提供了驗(yàn)證。通常,表面的傳統(tǒng)標(biāo)準(zhǔn)只適用于接觸式掃描技術(shù),而光學(xué)測(cè)量很難被追蹤。
Alicona的新粗糙度標(biāo)準(zhǔn)既適用于接觸式也適合于光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)。該標(biāo)準(zhǔn)顯示了光學(xué)無限變焦技術(shù)和接觸式測(cè)量在相同的公差范圍內(nèi)可以取得等價(jià)的測(cè)量結(jié)果。
對(duì)于粗糙度標(biāo)準(zhǔn)對(duì)光學(xué)粗糙度測(cè)量的驗(yàn)證,Alicona也提供了一個(gè)可校準(zhǔn)和驗(yàn)證的micro contour artefact,來追蹤形態(tài)測(cè)量。
無限變焦的光學(xué)技術(shù)適用于實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)中高分辨率的測(cè)量。即使在陡峭的斜面和強(qiáng)反射性能的情況下,垂直分辨率也可以高達(dá)10nm。在質(zhì)量保證方面,該技術(shù)被成功地用于形態(tài)和粗糙度測(cè)量。無限變焦技術(shù)被包括在新的ISO標(biāo)準(zhǔn)25178中,新的ISO標(biāo)準(zhǔn)25178*次包括光學(xué)處理技術(shù)。
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